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  Strongly enhanced thermal stability of crystalline organic thin films induced by aluminium oxide capping layers

Sellner, S., Gerlach, A., Schreiber, F., Kelsch, M., Kasper, N., Dosch, H., Meyer, S., Pflaum, J., Fischer, M., & Gompf, B. (2004). Strongly enhanced thermal stability of crystalline organic thin films induced by aluminium oxide capping layers. Advanced Materials, 16, 1750-1753.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Sellner, S.1, 著者           
Gerlach, A.2, 著者
Schreiber, F.3, 著者           
Kelsch, M.4, 5, 著者           
Kasper, N.1, 著者           
Dosch, H.1, 6, 著者           
Meyer, S.2, 著者
Pflaum, J.2, 著者
Fischer, M.2, 著者
Gompf, B.2, 著者
所属:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
2Physical and Theoretical Chemistry Laboratory, Oxford University, Oxford, UK;III. Physikalisches Institut, Universität Stuttgart, Stuttgart, Germany;I. Physikalisches Institut, Universität Stuttgart, Stuttgart, Germany, ou_persistent22              
3Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
4Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
5Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
6Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; MPI für Metallforschung; Abt. Dosch; Abt. Dosch; Abt. Rühle; ZWE MF-ANKA-Beamline; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2004
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 204840
 学位: -

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Advanced Materials
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 16 通巻号: - 開始・終了ページ: 1750 - 1753 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -