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  Internal stress measurements by high-energy synchrotron X-ray diffraction at increased specimen-detector distance

Böhm, J., Wanner, A., Kampmann, R., Franz, H., Liss, K.-D., Schreyer, A., et al. (2003). Internal stress measurements by high-energy synchrotron X-ray diffraction at increased specimen-detector distance. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 200, 315-322.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2D46-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2D47-C
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Böhm, J.1, Autor           
Wanner, A.1, Autor           
Kampmann, R.2, Autor
Franz, H.2, Autor
Liss, K.-D.2, Autor
Schreyer, A.2, Autor
Clemens, H.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2GKSS-Forschungszentrum Geesthacht GmbH,Institut für Werkstoffforschung, Max-Planck-Straße, 21502 Geesthacht Hamburge Synchrotronstrahlungslabor, Deutsches Elektronen-Sychrotron, Notkestr. 85, 22603 Hamburg, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-01
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 205763
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 200 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 315 - 322 Identifikator: -