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  Mechanical size-effects and dislocation dynamics in Cu thin films

Dehm, G., Edongue, H., Balk, T. J., & Arzt, E. (2003). Mechanical size-effects and dislocation dynamics in Cu thin films. Microscopy and Microanalysis, (Suppl. 3), 246-247.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2E1F-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2E20-9
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, G.1, Autor           
Edongue, H.1, 2, Autor           
Balk, T. J.1, Autor           
Arzt, E.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 56100
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy Conference 2003 (MC 2003). Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, 31st Conference
Veranstaltungsort: Dresden, Germany
Start-/Enddatum: 2003-09-07 - 2003-09-12

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY : Cambridge Univ. Pr.
Seiten: - Band / Heft: (Suppl. 3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 246 - 247 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Microscopy Conference 2003
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY : Cambridge Univ. Pr.
Seiten: - Band / Heft: (Suppl. 3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 246 - 247 Identifikator: -