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Datensatz

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  Creep of γ(TiAl) sheet material with a high niobium content

Bystrzanowski, S., Bartels, A., Clemens, H., Gerling, R., Schimansky, F. P., Kestler, H., et al. (2003). Creep of γ(TiAl) sheet material with a high niobium content. In Y.-W. Kim, H. Clemens, & A. Rosenberger (Eds.), Gamma Titanium Aluminides 2003 (pp. 431-436). Warrendale, PA: TMS.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bystrzanowski, S.1, Autor
Bartels, A.1, Autor
Clemens, H.2, Autor           
Gerling, R.1, Autor
Schimansky, F. P.1, Autor
Kestler, H.1, Autor
Dehm, G.2, Autor           
Haneczok, G.1, Autor
Weller, M.2, Autor           
Affiliations:
1TU Hamburg-Harburg; University of Leoben, Leoben, Austria; Institut für Werkstoffforschung, GKSS, Geesthacht; Plansee AG, reutte, Austria; Silesian University, Katowice, Poland, ou_persistent22              
2Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 112751
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Gamma Titanium Aluminides 2003
Veranstaltungsort: San Diego, Calif.
Start-/Enddatum: 2003-03-02 - 2003-03-06

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Gamma Titanium Aluminides 2003
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Kim, Y.-W., Herausgeber
Clemens, H.1, Herausgeber           
Rosenberger, A.H., Herausgeber
Affiliations:
1 Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655            
Ort, Verlag, Ausgabe: Warrendale, PA : TMS
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 431 - 436 Identifikator: -