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  A quantitative nanodiffraction system for ultrahigh vacuum scanning transmission electron microscopy

Hembree, G., Koch, C., & Spence, J. C. H. (2003). A quantitative nanodiffraction system for ultrahigh vacuum scanning transmission electron microscopy. Microscopy and Microanalysis, 9, 468-474.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2F1D-F 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2F1E-D
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Hembree, G.G.1, 著者
Koch, C.2, 3, 著者           
Spence, J. C. H.1, 著者
所属:
1Department of Physics & Astronomy Arizona State University, Tempe, AZ, USA, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2003
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 127095
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Microscopy and Microanalysis
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 9 通巻号: - 開始・終了ページ: 468 - 474 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -