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  Layer and defect structures of Ba F2/CaF2 multilayers

Jin-Phillipp, N. Y., Sata, N., Maier, J., Scheu, C., & Rühle, M. (2002). Layer and defect structures of Ba F2/CaF2 multilayers.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-32A8-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-32A9-B
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Jin-Phillipp, N. Y.1, 2, 3, Autor           
Sata, N., Autor
Maier, J.4, Autor
Scheu, C.1, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
4Max Planck Society, ou_persistent13              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; 51-ru_2002
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 10966
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2002
Veranstaltungsort: Québec City [Quebec, Canada]
Start-/Enddatum: 2002-08-05 - 2002-08-08

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings Microscopy and Microanalysis 2002
Genre der Quelle: Heft
 Urheber:
Voelkl, E., Herausgeber
Piston, D., Herausgeber
Gauvin, R., Herausgeber
Lockley, A. J., Herausgeber
Bailey, G. W., Herausgeber
McKernan, S., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: CD-ROM Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1164 - 1165 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: CD-ROM Band / Heft: 8 (Supplement 2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -