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  A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in situ x-ray diffraction measurements

Ritley, K. A., Krause, B., Schreiber, F., & Dosch, H. (2001). A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in situ x-ray diffraction measurements. Review of Scientific Instruments, 72(2), 1453-1457.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-357F-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3580-B
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Rev. Sci. Instrum.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Ritley, K. A.1, Autor           
Krause, B.1, Autor           
Schreiber, F.2, Autor           
Dosch, H.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
2Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
3Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001-02
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 21800
ISI: 000166688500036
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Review of Scientific Instruments
  Alternativer Titel : Rev. Sci. Instrum.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 72 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1453 - 1457 Identifikator: ISSN: 0034-6748