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  A new approach to understanding electromigration in Al(Cu) alloys on an atomistic basis

Schmidt, C., Dekker, J. P., Gumbsch, P., & Arzt, E. (2001). A new approach to understanding electromigration in Al(Cu) alloys on an atomistic basis. In Y. Limoge (Ed.), Proceedings of DIMAT 2000, the Fifth International Conference on Diffusion in Materials (pp. 151-156). Uetikon-Zürich: Scitec Publications Ltd.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schmidt, C., Autor
Dekker, J. P., Autor
Gumbsch, P.1, Autor           
Arzt, E.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt; atomistic simulation; electromigration; phenomenological equations; solute diffusion in Al(Cu)-alloys
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 21834
ISI: 000171690100024
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 5th International Conference on Diffusion in Materials (DIMAT 2000)
Veranstaltungsort: Paris, France
Start-/Enddatum: 2000-07-17 - 2000-07-21

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of DIMAT 2000, the Fifth International Conference on Diffusion in Materials
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Limoge, Y., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Uetikon-Zürich : Scitec Publications Ltd.
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 151 - 156 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Defect and Diffusion Forum
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 194/199 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -