Electromigration in Bamboo Aluminium Interconnects

Witt, C.

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Electromigration in Bamboo Aluminium Interconnects

Witt, C. (2000). Electromigration in Bamboo Aluminium Interconnects. PhD Thesis, Universität Stuttgart, Stuttgart.

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-370D-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-370E-E

Genre: Hochschulschrift

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Urheber:
Witt, C.¹, Autor

Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;

Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Angenommen: 2000-12-20

Publikationsstatus: Angenommen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: Stuttgart : Universität Stuttgart

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 200876
URI: http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2001/793/

Art des Abschluß: Doktorarbeit

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