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Influence of experimental parameters on the accuracy of lattice-distortion measurements directly from high-resolution micrographs

Du, K., Jin-Phillipp, N. Y., & Phillipp, F. (2000). Influence of experimental parameters on the accuracy of lattice-distortion measurements directly from high-resolution micrographs. In P. Ciampor, L. Frank, P. Tomanek, & R. Kolarik (Eds.), Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 3 (pp. 137-138). Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3787-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3789-9

Genre: Konferenzbeitrag

Dateien

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Externe Referenzen

Urheber

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Urheber:
Du, K.¹, Autor
Jin-Phillipp, N. Y.¹, Autor
Phillipp, F.¹, Autor

Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie;

Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2000

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 43732

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 12th European Congress on Electron Microscopy (EUREM2000)

Veranstaltungsort: Brno [Czech Republic]

Start-/Enddatum: 2000-07-09 - 2000-07-14

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 3

Genre der Quelle: Konferenzband

Urheber:
Ciampor, P., Herausgeber
Frank, L., Herausgeber
Tomanek, P., Herausgeber
Kolarik, R., Herausgeber

Affiliations:
-

Ort, Verlag, Ausgabe: Brno : Czechoslovak Society for Electron Microscopy

Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 137 - 138 Identifikator: -