Direct strain measurements in InP/GaInP quantum dots by HREM

Jin-Phillipp, N. Y.; Phillipp, F.

Direct strain measurements in InP/GaInP quantum dots by HREM

Jin-Phillipp, N. Y., & Phillipp, F. (2000). Direct strain measurements in InP/GaInP quantum dots by HREM. In P., Ciampor, L., Frank, J., Gemperlova, & I., Vavra (Eds.), Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 2: Physical Sciences (pp. 299-300). Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-37BE-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-37C0-9

資料種別: 会議論文

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作成者:
Jin-Phillipp, N. Y.¹, 著者
Phillipp, F.¹, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2000

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 46907

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 2: Physical Sciences

種別: 会議論文集

著者・編者:
Ciampor, P., 編集者
Frank, L., 編集者
Gemperlova, J., 編集者
Vavra, I., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Brno : Czechoslovak Society for Electron Microscopy

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 299 - 300 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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