Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Reduced critical thickness and photoluminescence line splitting in multiple layers of self-assembled Ge/Si islands

Schmidt, O. G., Eberl, K., Kienzle, O., Ernst, F., Christiansen, S., & Strunk, H. P. (2000). Reduced critical thickness and photoluminescence line splitting in multiple layers of self-assembled Ge/Si islands. Materials Science and Engineering B, 74, 248-252.

Item is Freigegeben

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:

Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-37F2-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-37F3-8

Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

einblenden: Dateien

Externe Referenzen

Urheber

ausblenden:

Urheber:
Schmidt, O. G., Autor
Eberl, K., Autor
Kienzle, O.¹, Autor
Ernst, F.¹, Autor
Christiansen, S., Autor
Strunk, H. P., Autor

Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

Inhalt

ausblenden:

Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;

Zusammenfassung: -

Details

ausblenden:

Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2000

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung

Identifikatoren: eDoc: 198720

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

ausblenden:

Titel: Materials Science and Engineering B

Genre der Quelle: Zeitschrift

Urheber:

Affiliations:

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Seiten: - Band / Heft: 74 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 248 - 252 Identifikator: -