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  Scanning tunneling microscopy of chromium-filled carbon nanotubes: Tip effects and related topographic features

Zha, F.-X., Czerw, R., Carroll, D. L., Kohler-Redlich, P., Wei, B.-Q., Loiseau, A., & Roth, S. (2000). Scanning tunneling microscopy of chromium-filled carbon nanotubes: Tip effects and related topographic features. Physical Review B, 61, 4884-4889.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Zha, F.-X., 著者
Czerw, R., 著者
Carroll, D. L., 著者
Kohler-Redlich, P.1, 著者           
Wei, B.-Q., 著者
Loiseau, A., 著者
Roth, S., 著者
所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2000
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 198733
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Physical Review B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 61 通巻号: - 開始・終了ページ: 4884 - 4889 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -