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  An X-ray reflectivity study of solution-deposited ZrO2 thin films on SAMs: growth, interface properties, and thermal densification

Ritley, K. A., Just, K.-P., Schreiber, F., Dosch, H., Niesen, T. P., & Aldinger, F. (2000). An X-ray reflectivity study of solution-deposited ZrO2 thin films on SAMs: growth, interface properties, and thermal densification. Journal of Materials Research, 15, 2706-2713.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Ritley, K. A.1, Autor           
Just, K.-P.1, Autor           
Schreiber, F.2, Autor           
Dosch, H.1, 3, Autor           
Niesen, T. P.4, Autor           
Aldinger, F.4, 5, Autor           
Affiliations:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
2Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
3Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              
4Former Dept. Materials Synthesis and Microstructure Design, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497654              
5Universität Stuttgart, Institut für Nichtmetallische Anorganische Materialien, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Aldinger; Abt. Dosch;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 198986
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Research
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 15 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2706 - 2713 Identifikator: -