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  Determination of total primary zero loss intensities in measured electron emission spectra of bare and oxidized metals. Application to aluminium oxide films on aluminium substrates

Jeurgens, L. P. H., Sloof, W. G., Tichelaar, C. G., & Mittemeijer, E. J. (2000). Determination of total primary zero loss intensities in measured electron emission spectra of bare and oxidized metals. Application to aluminium oxide films on aluminium substrates. Applied Surface Science, 161, 139-148.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3931-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3932-C
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Jeurgens, L. P. H.1, Autor           
Sloof, W. G., Autor
Tichelaar, C. G., Autor
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 200633
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Surface Science
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 161 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 139 - 148 Identifikator: -