Strain profiles in epitaxial films from X-ray Bragg diffraction phases

Vartanyants, I.; Ern, C.; Donner, W.; Dosch, H.; Caliebe, W.

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Strain profiles in epitaxial films from X-ray Bragg diffraction phases

Vartanyants, I., Ern, C., Donner, W., Dosch, H., & Caliebe, W. (2000). Strain profiles in epitaxial films from X-ray Bragg diffraction phases. Applied Physics Letters, 77, 3929-3931.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3995-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3996-A

資料種別: 学術論文

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Vartanyants, I., 著者
Ern, C.¹, 著者
Donner, W.¹, 著者
Dosch, H.^{1, 2}, 著者
Caliebe, W., 著者

所属:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
2Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2000

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 200793

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Applied Physics Letters

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 77 通巻号: - 開始・終了ページ: 3929 - 3931 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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