Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Microstructural and residual stress development in thin films

Regniet, D. (2009). Microstructural and residual stress development in thin films. Diploma Thesis, Universität Stuttgart, Stuttgart.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3C77-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3C78-5
Genre: Hochschulschrift

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Regniet, D.1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-11-12
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: Stuttgart : Universität Stuttgart
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 439698
 Art des Abschluß: Diplom

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle

einblenden: