Investigation of single-crystalline nano-whiskers by different TEM-methods

Richter, G.; Hillerich, K.; Kelsch, M.; Hahn, K.; Lang, D.

doi:10.3217/978-3-85125-062-6-422

Investigation of single-crystalline nano-whiskers by different TEM-methods

Richter, G., Hillerich, K., Kelsch, M., Hahn, K., & Lang, D. (2009). Investigation of single-crystalline nano-whiskers by different TEM-methods. In W., Grogger, F., Hofer, & P., Pölt (Eds.), MC2009. Vol. 3: Materials Science (pp. 99-100). Graz: Verlag der Technischen Universität Graz, Austria.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E29-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E2B-7

資料種別: 会議論文

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Richter, G.¹, 著者
Hillerich, K.², 著者
Kelsch, M.³, 著者
Hahn, K.³, 著者
Lang, D.⁴, 著者

所属:
1Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640
2Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
4Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Ehemalige Abt. Arzt; Abt. Mittemeijer; ZWE Dünnschichtlabor;

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 435848
DOI: 10.3217/978-3-85125-062-6-422

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: MC2009. Vol. 3: Materials Science

種別: 会議論文集

著者・編者:
Grogger, W., 編集者
Hofer, F., 編集者
Pölt, P., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Graz : Verlag der Technischen Universität Graz, Austria

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 99 - 100 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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