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  In-situ atomic resolution HVEM studies of strontium titanate at high temperatures

Phillipp, F., Bellina, P. J., Lee, S. B., Messer, R., & van Aken, P. A. (2008). In-situ atomic resolution HVEM studies of strontium titanate at high temperatures. Korean Journal of Microscopy, 38(4, Supplement), 102-103.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Phillipp, F.1, Autor           
Bellina, P. J.1, Autor           
Lee, S. B., Autor           
Messer, R.2, Autor
van Aken, P. A.1, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2School of Materials Science and Engineering, Seoul; National University, Seoul 151-744, SouthKorea;University of Cooperative Education, Jägerstraße 56, D-70174 Stuttgart, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 391269
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9)
Veranstaltungsort: Jeju, South Korea
Start-/Enddatum: 2008-11-02 - 2008-11-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Korean Journal of Microscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 38 (4, Supplement) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 102 - 103 Identifikator: -