In-situ atomic resolution HVEM studies of strontium titanate at high 
temperatures

Phillipp, F.; Bellina, P. J.; Lee, S. B.; Messer, R.; van Aken, P. A.

In-situ atomic resolution HVEM studies of strontium titanate at high temperatures

Phillipp, F., Bellina, P. J., Lee, S. B., Messer, R., & van Aken, P. A. (2008). In-situ atomic resolution HVEM studies of strontium titanate at high temperatures. Korean Journal of Microscopy, 38(4, Supplement), 102-103.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4156-E 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4157-C

資料種別: 会議論文

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Phillipp, F.¹, 著者
Bellina, P. J.¹, 著者
Lee, S. B., 著者
Messer, R.², 著者
van Aken, P. A.¹, 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
2School of Materials Science and Engineering, Seoul; National University, Seoul 151-744, SouthKorea;University of Cooperative Education, Jägerstraße 56, D-70174 Stuttgart, Germany, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2008

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 391269

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Korean Journal of Microscopy

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 38 (4, Supplement) 通巻号: - 開始・終了ページ: 102 - 103 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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