Quantitative image matching between experimental and simulated high-resolution 
transmission electron micrographs

Du, K.; Phillipp, F.; Rühle, M.

Quantitative image matching between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs

Du, K., Phillipp, F., & Rühle, M. (2008). Quantitative image matching between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs. Korean Journal of Microscopy, 38(4, Supplement), 514-515.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4158-A 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4159-8

資料種別: 会議論文

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Du, K., 著者
Phillipp, F.¹, 著者
Rühle, M.², 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497669
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2008

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 391277

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Korean Journal of Microscopy

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 38 (4, Supplement) 通巻号: - 開始・終了ページ: 514 - 515 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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