Aspects regarding measurement of thickness of intergranular glassy films

Bhattacharyya, S.; Subramaniam, A.; Koch, C. T.; Rühle, M.

Aspects regarding measurement of thickness of intergranular glassy films

Bhattacharyya, S., Subramaniam, A., Koch, C. T., & Rühle, M. (2006). Aspects regarding measurement of thickness of intergranular glassy films. Journal of Microscopy, 221, 46-62.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46B9-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46BA-2

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : J. Microsc.

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Bhattacharyya, S.¹, 著者
Subramaniam, A.¹, 著者
Koch, C. T.^{1, 2}, 著者
Rühle, M.³, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
3Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2006

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 282014

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Microscopy

出版物の別名 : J. Microsc.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 221 通巻号: - 開始・終了ページ: 46 - 62 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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