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  Damage analysis in Al thin films fatigued at ultrahigh frequencies

Eberl, C., Spolenak, R., Kraft, O., Kubat, F., Ruile, W., & Arzt, E. (2006). Damage analysis in Al thin films fatigued at ultrahigh frequencies. Journal of Applied Physics, 99: 113501.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46FA-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46FB-0
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Eberl, C.1, Autor           
Spolenak, R.1, Autor           
Kraft, O.1, Autor           
Kubat, F.2, Autor
Ruile, W.2, Autor
Arzt, E.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Institut für Metallkunde, Universität Stuttgart; Laboratory for Nanometallurgy, Department of Materials, ETH Zurich, Switzerland; Institut für Materialforschung II, Forschungszentrum Karlsruhe; Institut für Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen, Universität Karlsruhe; EPCOS AG, München, ou_persistent22              
3Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 8 pages
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 284876
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Physics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 99 Artikelnummer: 113501 Start- / Endseite: - Identifikator: -