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  EELS studies of the bandgap in GaN using monochromated electrons

Gu, L., Srot, V., Sigle, W., Koch, C. T., Scholz, F., Kirchner, C., et al. (2006). EELS studies of the bandgap in GaN using monochromated electrons. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 1484-1484). International Federation of Societies in Microscopy.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47DF-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47E0-2
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gu, L.1, Autor           
Srot, V.1, Autor           
Sigle, W.1, Autor           
Koch, C. T.1, Autor           
Scholz, F.2, Autor
Kirchner, C.2, Autor
Thapa, S. B.2, Autor
Rühle, M.3, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Universität Ulm, Albert-Einstein-Allee 45, Ulm, Germany, ou_persistent22              
3Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 287720
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 16th International Microscopy Congress - IMC16
Veranstaltungsort: Sapporo, Japan
Start-/Enddatum: 2006-09-03 - 2006-09-08

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: International Federation of Societies in Microscopy
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1484 - 1484 Identifikator: -