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  EELS/ELNES and STEM inverstigations of Cu-rich layers and nanostructures formed by metal deposition on chalcogenide crystal surfaces

Hollensteiner, S., Sigle, W., Spiecker, E., & Jäger, W. (2006). EELS/ELNES and STEM inverstigations of Cu-rich layers and nanostructures formed by metal deposition on chalcogenide crystal surfaces. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 1850-1850). International Federation of Societies in Microscopy.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47E9-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47EA-E
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hollensteiner, S., Autor
Sigle, W.1, 2, Autor           
Spiecker, E., Autor
Jäger, W., Autor
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Zentrum für Transmissionslektronenmikroskopie;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 287814
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 16th International Microscopy Congress - IMC16
Veranstaltungsort: Sapporo, Japan
Start-/Enddatum: 2006-09-03 - 2006-09-08

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: International Federation of Societies in Microscopy
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1850 - 1850 Identifikator: -