Determination of projected potential profiles across interfaces using through 
focal series reconstruction

Bhattacharyya, S.; Koch, C. T.; Rühle, M.

Determination of projected potential profiles across interfaces using through focal series reconstruction

Bhattacharyya, S., Koch, C. T., & Rühle, M. (2006). Determination of projected potential profiles across interfaces using through focal series reconstruction. Microscopy and Microanalysis, 12(Suppl. 2: Proceedings), 1016-1017.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47EB-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47EC-A

資料種別: 会議論文

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Bhattacharyya, S., 著者
Koch, C. T.¹, 著者
Rühle, M.², 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650

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キーワード: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2006

出版の状態: 出版

ページ: -

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 288646

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Microscopy and Microanalysis

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 12 (Suppl. 2: Proceedings) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1016 - 1017 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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