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  EELS and EDX study of Pt/YSZ interfaces

Srot, V., Scheu, C., Tchernychova, E., Sigle, W., Fischer, H., Janek, J., & Rühle, M. (2006). EELS and EDX study of Pt/YSZ interfaces. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 1321-1321). International Federation of Societies in Microscopy.

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基本情報

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資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Srot, V.1, 著者           
Scheu, C., 著者           
Tchernychova, E., 著者           
Sigle, W.1, 著者           
Fischer, H.2, 著者
Janek, J.2, 著者
Rühle, M.3, 著者           
所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Jozef Stefan Institute, Jamova 39, Ljubljana, Slovenia;Department Physical Metallurgy and Materials Testing, University of Leoben, Franz-Josef-Straße 18, Leoben, Austria;Materials Research Center, University Lehigh, 5 East Packer Avenue, Bethlehem, PA, USA;Research Institute for Electron Microscopy, Graz University of Technology,Steyerergasse 17, 8010 Graz, Austria;Physikalisch-Chemisches Institut, Justus-Liebig-Universität Gießen, Heinrich-Buff-ring 58, Gießen, Germany, ou_persistent22              
3Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2006
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 318175
 学位: -

関連イベント

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イベント名: 16th International Microscopy Congress - IMC16
開催地: Sapporo, Japan
開始日・終了日: 2006-09-03 - 2006-09-08

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: International Federation of Societies in Microscopy
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 1321 - 1321 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -