Requisites for ultimate energy resolution EELS and band gap measurements

Essers, E.; Höschen, R.; Matijevic, M.; Benner, G.; Koch, C. T.

Requisites for ultimate energy resolution EELS and band gap measurements

Essers, E., Höschen, R., Matijevic, M., Benner, G., & Koch, C. T. (2006). Requisites for ultimate energy resolution EELS and band gap measurements. Microscopy and Microanalysis, 12(Suppl. 2: Proceedings), 1148-1149.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-48A2-6 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-48A3-4

資料種別: 会議論文

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Essers, E.¹, 著者
Höschen, R.^{2, 3}, 著者
Matijevic, M.¹, 著者
Benner, G.¹, 著者
Koch, C. T.^{2, 3}, 著者

所属:
1Carl Zeiss NTS GmbH, Carl-Zeiss-Straße 56, 73447 Oberkochen, Germany, ou_persistent22
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

内容説明

表示:

非表示:

キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

資料詳細

表示:

非表示:

言語: eng - English

日付: 出版: 2006

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 378649

学位: -

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:

非表示:

出版物名: Microscopy and Microanalysis

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: Canbridge, UK : Cambridge University Press

ページ: - 巻号: 12 (Suppl. 2: Proceedings) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1148 - 1149 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物 1