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  The X-ray microscopy beamline UE46-PGM2 at BESSY

Follath, R., Schmidt, J. S., Weigand, M., & Fauth, K. (2010). The X-ray microscopy beamline UE46-PGM2 at BESSY. In R. Garrett, I. Gentle, K. Nugent, & S. Wilkins (Eds.), 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (pp. 323-326). Melville, NY: American Institute of Physics.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Follath, R.1, Autor
Schmidt, J. S.1, Autor
Weigand, M.2, Autor           
Fauth, K.2, Autor           
Affiliations:
1Helmholtz-Center Berlin, Albert-Einstein-Str. 15, 12489 Berlin, Germany; University Würzburg, Experimental Physics 4, Am Hubland, 97074 Würzburg, Germany;, ou_persistent22              
2Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Abt. Schütz;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 572147
DOI: 10.1063/1.3463201
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (SRI 2009)
Veranstaltungsort: Melbourne, Australia
Start-/Enddatum: 2009-09-27 - 2009-10-02

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Garrett, R., Herausgeber
Gentle, I., Herausgeber
Nugent, K., Herausgeber
Wilkins, S., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 323 - 326 Identifikator: ISBN: 978-0-7354-0782-4

Quelle 2

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Titel: AIP Conference Proceedings
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 1234 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -