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  Nanoscale Conductivity Contrast by Scattering-Type Near-Field Optical Microscopy in the Visible, Infrared and THz Domains

Keilmann, F., Huber, A. J., & Hillenbrand, R. (2009). Nanoscale Conductivity Contrast by Scattering-Type Near-Field Optical Microscopy in the Visible, Infrared and THz Domains. Journal of Infrared Millimeter and Terahertz Waves, 30(12), 1255-1268.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Infrared Millim. Terahertz Waves

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Keilmann, F.1, Autor           
Huber, A. J.1, Autor           
Hillenbrand, R.1, Autor           
Affiliations:
1Baumeister, Wolfgang / Molecular Structural Biology, Max Planck Institute of Biochemistry, Max Planck Society, ou_1565142              

Inhalt

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Schlagwörter: Metallic conduction; Semiconductors; Correlated conductors; Conductivity contrast; Near-field optical microscopy; Visible near-field microscopy; Infrared near-field microscopy; THz near-field microscopy
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-12
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 437313
ISI: 000269913200003
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Infrared Millimeter and Terahertz Waves
  Alternativer Titel : J. Infrared Millim. Terahertz Waves
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 30 (12) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1255 - 1268 Identifikator: ISSN: 1866-6892