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  Scattering-type near-field optical microscopy

Keilmann, F. (2004). Scattering-type near-field optical microscopy. Journal of Electron Microscopy, 53(2), 187-192.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-6A40-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-6A41-D
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Electron Microsc.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Keilmann, F.1, Autor           
Affiliations:
1Baumeister, Wolfgang / Molecular Structural Biology, Max Planck Institute of Biochemistry, Max Planck Society, ou_1565142              

Inhalt

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Schlagwörter: scanning near-field optical microscopy; solid scattering tips; photon confinement; infrared radiation; visible light; nanostructures
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 221877
ISI: 000221349400014
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Electron Microscopy
  Alternativer Titel : J. Electron Microsc.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 53 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 187 - 192 Identifikator: ISSN: 0022-0744