X-ray/atomic force microscopy study of the temperature-dependent multilayer 
structure of PTCDI-C8 films on SiO2

Krauss, T. N.; Barrena, E.; de Oteyza, D. G.; Zhang, X. N.; Major, J.; Dehm, V.; Würthner, F.; Dosch, H.

doi:10.1021/jp808037w

X-ray/atomic force microscopy study of the temperature-dependent multilayer structure of PTCDI-C₈ films on SiO₂

Krauss, T. N., Barrena, E., de Oteyza, D. G., Zhang, X. N., Major, J., Dehm, V., Würthner, F., & Dosch, H. (2009). X-ray/atomic force microscopy study of the temperature-dependent multilayer structure of PTCDI-C₈ films on SiO₂. Journal of Physical Chemistry C, 113(11), 4502-4506. doi:10.1021/jp808037w.

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資料種別: 学術論文

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Krauss, T. N.¹, 著者
Barrena, E.¹, 著者
de Oteyza, D. G.¹, 著者
Zhang, X. N.¹, 著者
Major, J.¹, 著者
Dehm, V.², 著者
Würthner, F.², 著者
Dosch, H.^{1, 2}, 著者

所属:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
2Institut für Theoretische und Angewandte Physik, Pfaffenwaldring 57, 70550 Stuttgart, Germany;Institut für Organische Chemie, Am Hubland, Universität Würzburg, 97074 Würzburg, Germany, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch/Rühle;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009-02-20

出版の状態: 出版

ページ: -

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目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 415185
DOI: 10.1021/jp808037w

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Physical Chemistry C

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 113 (11) 通巻号: - 開始・終了ページ: 4502 - 4506 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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