X-ray grating spectrometer for opacity measurements in the 50 eV to 250 eV 
spectral range at the LULI 2000 laser facility

Reverdin, Charles; Thais, Frederic; Loisel, Guillaume; Busquet, M.; Bastiani-Ceccotti, S.; Blenski, T.; Caillaud, T.; Ducret, J. E.; Fölsner, Walter; Gilles, D.; Gilleron, F.; Pain, J. C.; Poirier, M.; Serres, F.; Silvert, V.; Soullie, G.; Turck-Chieze, S.; Villette, B.

doi:10.1063/1.4740266

X-ray grating spectrometer for opacity measurements in the 50 eV to 250 eV spectral range at the LULI 2000 laser facility

Reverdin, C., Thais, F., Loisel, G., Busquet, M., Bastiani-Ceccotti, S., Blenski, T., Caillaud, T., Ducret, J. E., Fölsner, W., Gilles, D., Gilleron, F., Pain, J. C., Poirier, M., Serres, F., Silvert, V., Soullie, G., Turck-Chieze, S., & Villette, B. (2012). X-ray grating spectrometer for opacity measurements in the 50 eV to 250 eV spectral range at the LULI 2000 laser facility. Review of scientific instruments, 83(10):. doi:10.1063/1.4740266.

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Reverdin, Charles¹, 著者
Thais, Frederic¹, 著者
Loisel, Guillaume¹, 著者
Busquet, M.¹, 著者
Bastiani-Ceccotti, S.¹, 著者
Blenski, T.¹, 著者
Caillaud, T.¹, 著者
Ducret, J. E.¹, 著者
Fölsner, Walter², 著者
Gilles, D.¹, 著者
Gilleron, F.¹, 著者
Pain, J. C.¹, 著者
Poirier, M.¹, 著者
Serres, F.¹, 著者
Silvert, V.¹, 著者
Soullie, G.¹, 著者
Turck-Chieze, S.¹, 著者
Villette, B.¹, 著者

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2Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445564

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言語: eng - English

日付: 作成: 2012-10オンライン出版: 2012-08-24出版: 2012-10

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査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: ISI: 000311562900142
DOI: 10.1063/1.4740266
URI: http://rsi.aip.org/resource/1/rsinak/v83/i10/p10E134_s1
その他: 4444

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出版物名: Review of scientific instruments

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: College Park, Maryland : American Institute of Physics

ページ: - 巻号: 83 (10) 通巻号: 10E134 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0034-6748

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