Assessing Charge Carrier Trapping in Silicon Nanowires Using Picosecond 
Conductivity Measurements

Ulbricht, R.; Kurstjens, R.; Bonn, Mischa

Assessing Charge Carrier Trapping in Silicon Nanowires Using Picosecond Conductivity Measurements

Ulbricht, R., Kurstjens, R., & Bonn, M. (2012). Assessing Charge Carrier Trapping in Silicon Nanowires Using Picosecond Conductivity Measurements. Nano Letters, 12(7), 3821-3827.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000E-797C-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-9506-F

資料種別: 学術論文

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Ulbricht, R., 著者
Kurstjens, R., 著者
Bonn, Mischa^{1, 2}, 著者

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1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545
2Dept. Bonn: Molecular Spectroscopy, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, Mainz , DE, ou_1800285

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言語: eng - English

日付: 出版: 2012

出版の状態: 出版

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識別子（DOI, ISBNなど）: その他: P-12-188

学位: -

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出版物名: Nano Letters

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: Washington, DC : American Chemical Society

ページ: - 巻号: 12 (7) 通巻号: - 開始・終了ページ: 3821 - 3827 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1530-6984
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/110978984570403

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