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  Stability of thin wetting films on chemically nanostructured surfaces

Checco, A., Ocko, B. M., Tasinkevych, M., & Dietrich, S. (2012). Stability of thin wetting films on chemically nanostructured surfaces. Physical Review Letters, 109(16): 166101. doi:10.1103/PhysRevLett.109.166101.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Checco, A.1, Autor
Ocko, B. M.1, Autor
Tasinkevych, M.2, 3, Autor           
Dietrich, S.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Condensed Matter Physics and Materials Science Department, Brookhaven National Laboratory, Upton, New York 11973, USA, ou_persistent22              
2Dept. Theory of Inhomogeneous Condensed Matter, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497643              
3Institut für Theoretische und Angewandte Physik, Universität StuttgartPfaffenwaldring 57, D-70569 Stuttgart, Germany, Pfaffenwaldring 57, D-70569 Stuttgart, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Abt. Dietrich; wetting and capillarity
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012-10-15
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 5
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1103/PhysRevLett.109.166101
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, N.Y., etc. : American Physical Society.
Seiten: - Band / Heft: 109 (16) Artikelnummer: 166101 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0031-9007
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925433406_1