Wetting Phenomena on the Nanometer Scale

Rauscher, Markus; Dietrich, Siegfried; Napiórkowski, Marek

doi:10.1201/b14789-4

Wetting Phenomena on the Nanometer Scale

Rauscher, M., Dietrich, S., & Napiórkowski, M. (2013). Wetting Phenomena on the Nanometer Scale. In T., Ondarçuhu, & J.-P., Aimé (Eds.), Nanoscale Liquid Interfaces (pp. 83-153). Singapore: Pan Stanford Publishing. doi:10.1201/b14789-4.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000E-F7FB-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-29E8-5

資料種別: 書籍の一部

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Rauscher, Markus^{1, 2}, 著者
Dietrich, Siegfried^{1, 2}, 著者
Napiórkowski, Marek³, 著者

所属:
1Dept. Theory of Inhomogeneous Condensed Matter, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497643
2Universität Stuttgart, Institut für Theoretische Physik IV, ou_persistent22
3Instytut Fizyki Teoretycznej, Wydział Fizyki, Uniwersytet Warszawski, 00-681 Warszawa, Ho ̇ a 69, Poland, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: Abt. Dietrich; Nanofluidics

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2013-05-02出版: 2013-04-17

出版の状態: 出版

ページ: 70

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1201/b14789-4

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Nanoscale Liquid Interfaces

副タイトル : Wetting, Patterning and Force Microscopy at the Molecular Scale

種別: 書籍

著者・編者:
Ondarçuhu, Thierry¹, 編集者
Aimé, Jean-Pierre², 編集者

所属:
1 CEMES-CNRS, ou_persistent22
2 CPMOH-CNRS, ou_persistent22

出版社, 出版地: Singapore : Pan Stanford Publishing

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 83 - 153 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-981-4316-45-3
ISBN: 978-981-4364-48-5
DOI: 10.4032/9789814364485
DOI: 10.1201/b14789

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