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  Electrical tip-sample contact in scanning conductive torsion mode

Weber, S. A. L., & Berger, R. (2013). Electrical tip-sample contact in scanning conductive torsion mode. Applied Physics Letters, 102(16): 163105. doi:10.1063/1.4802725.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-A65B-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0014-4B96-3
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Weber, Stefan A. L.1, Autor           
Berger, Rüdiger1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Butt: Physics at Interfaces, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800286              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.4802725
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 102 (16) Artikelnummer: 163105 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223