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  Failure Diagnosis and Recovery based on DES Framework

Son, H. (2004). Failure Diagnosis and Recovery based on DES Framework. In IEEE International Conference on Mechatronics (ICM '04) (pp. 255-260). Piscataway, NJ, USA: IEEE Operations Center.

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基本情報

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資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Son, HI1, 著者           
所属:
1Department Human Perception, Cognition and Action, Max Planck Institute for Biological Cybernetics, Max Planck Society, ou_1497797              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: As many industrial systems become complex, it is very difficult to identify the cause of failures. This paper presents a new failure diagnosis approach based on discrete-event systems (DES) framework. In particular, the approach is a hybrid of event-based and state-based ones leading to a simpler failure diagnoser with supervisory control capability. In our approach, we include the failure recovery events for failures in the system model in order to derive a diagnoser we refer to as a recoverable diagnoser. Further, in order to reduce the state size of the recoverable diagnoser, a procedure to construct a high-level diagnoser is presented.

資料詳細

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言語:
 日付: 2004-06
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): ISBN: 0-7803-8599-3
URI: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=arnumber=1364448
DOI: 10.1109/ICMECH.2004.1364448
BibTex参照ID: 6467
 学位: -

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イベント名: IEEE International Conference on Mechatronics (ICM '04)
開催地: Istanbul, Turkey
開始日・終了日: -

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出版物 1

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出版物名: IEEE International Conference on Mechatronics (ICM '04)
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Piscataway, NJ, USA : IEEE Operations Center
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 255 - 260 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -