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  Micro-heterogeneity study of trace elements in USGS, MPI-DING and NIST glass reference materials by means of synchrotron micro-XRF

Kempenaers, L., Janssens, K., Jochum, K. P., Vincze, L., Vekemans, B., Somogyi, A., et al. (2003). Micro-heterogeneity study of trace elements in USGS, MPI-DING and NIST glass reference materials by means of synchrotron micro-XRF. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 18(4), 350-357.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0014-8F5C-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0014-8F5D-E
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Anal. At. Spectrom.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kempenaers, L., Autor
Janssens, K., Autor
Jochum, K. P.1, Autor           
Vincze, L., Autor
Vekemans, B., Autor
Somogyi, A., Autor
Drakopoulos, M., Autor
Adams, F., Autor
Affiliations:
1Geochemistry, Max Planck Institute for Chemistry, Max Planck Society, ou_1826288              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 120095
ISI: 000181827800010
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Analytical Atomic Spectrometry
  Alternativer Titel : J. Anal. At. Spectrom.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 18 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 350 - 357 Identifikator: ISSN: 0267-9477