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  Rapid prototyping of Fresnel zone plates via direct Ga+ ion beam lithography for high-resolution x-ray imaging

Keskinbora, K., Grévent, C., Eigenthaler, U., Weigand, M., & Schütz, G. (2013). Rapid prototyping of Fresnel zone plates via direct Ga+ ion beam lithography for high-resolution x-ray imaging. ACS Nano, 7(11), 9788-9797. doi:10.1021/nn403295k.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Keskinbora, K.1, 著者           
Grévent, C.1, 著者           
Eigenthaler, U.2, 著者           
Weigand, M.1, 著者           
Schütz, G.1, 著者           
所属:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
2Scientific Staff Assembly Dual Beam, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497668              

内容説明

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キーワード: Abt. Schütz
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2013
 出版の状態: 出版
 ページ: 10
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1021/nn403295k
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: ACS Nano
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Washington, DC : American Chemical Society
ページ: - 巻号: 7 (11) 通巻号: - 開始・終了ページ: 9788 - 9797 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 1936-0851
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1936-0851