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  Rapid prototyping of Fresnel zone plates via direct Ga+ ion beam lithography for high-resolution x-ray imaging

Keskinbora, K., Grévent, C., Eigenthaler, U., Weigand, M., & Schütz, G. (2013). Rapid prototyping of Fresnel zone plates via direct Ga+ ion beam lithography for high-resolution x-ray imaging. ACS Nano, 7(11), 9788-9797. doi:10.1021/nn403295k.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Keskinbora, K.1, Autor           
Grévent, C.1, Autor           
Eigenthaler, U.2, Autor           
Weigand, M.1, Autor           
Schütz, G.1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
2Scientific Staff Assembly Dual Beam, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497668              

Inhalt

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Schlagwörter: Abt. Schütz
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 10
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1021/nn403295k
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: ACS Nano
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Washington, DC : American Chemical Society
Seiten: - Band / Heft: 7 (11) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 9788 - 9797 Identifikator: ISSN: 1936-0851
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1936-0851