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  Distribution of electronic reconstruction at the n-type LaAlO3/SrTiO3 interface revealed by hard x-ray photoemission spectroscopy

Chu, Y. Y., Liao, Y. F., Tra, V. T., Yang, J. C., Liu, W. Z., Chu, Y. H., et al. (2011). Distribution of electronic reconstruction at the n-type LaAlO3/SrTiO3 interface revealed by hard x-ray photoemission spectroscopy. Applied Physics Letters, 99(26): 262101, pp. 1-3. doi:10.1063/1.3672099.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Chu, Y. Y., Autor
Liao, Y. F., Autor
Tra, V. T., Autor
Yang, J. C., Autor
Liu, W. Z., Autor
Chu, Y. H., Autor
Lin, J. Y., Autor
Huang, J. H., Autor
Weinen, J.1, Autor           
Agrestini, S.2, Autor           
Tsuei, K.-D., Autor
Huang, D. J., Autor
Affiliations:
1Physics of Correlated Matter, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863445              
2Stefano Agrestini, Physics of Correlated Matter, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863459              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011-12-27
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 582177
DOI: 10.1063/1.3672099
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 99 (26) Artikelnummer: 262101 Start- / Endseite: 1 - 3 Identifikator: ISSN: 0003-6951