Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 DetailsÜbersicht
  Scanning small-angle X-ray scattering analysis of the size and organization of the mineral nanoparticles in fluorotic bone using a stack of cards model

Gourrier, A., Li, C. H., Siegel, S., Paris, O., Roschger, P., Klaushofer, K., et al. (2010). Scanning small-angle X-ray scattering analysis of the size and organization of the mineral nanoparticles in fluorotic bone using a stack of cards model. Journal of Applied Crystallography, 43, 1385-1392. doi:10.1107/S0021889810035090.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-4A14-9 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0003-EB1A-8
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

einblenden: Dateien
ausblenden: Dateien
:
522645.pdf (Verlagsversion), 648KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
522645.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, MTKG; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Gourrier, A.1, Autor           
Li, C. H.2, Autor           
Siegel, S.2, Autor           
Paris, O.1, Autor           
Roschger, P., Autor
Klaushofer, K., Autor
Fratzl, P.3, Autor           
Affiliations:
1Biomaterialien, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863285              
2Wolfgang Wagermaier, Biomaterialien, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863296              
3Peter Fratzl, Biomaterialien, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863294              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: bone; nanoscale; ultrastructure; mineral particles; synchrotron radiation; microbeams; small-angle scattering; small-angle X-ray scattering; scanning X-ray scattering imaging; modelling
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010-12
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 522645
ISI: 000284550900012
DOI: 10.1107/S0021889810035090
PMID: 0342
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Journal of Applied Crystallography
  Kurztitel : J. Appl. Cryst.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Oxford, England : Blackwell Publishing on behalf of the International Union of Crystallography
Seiten: Part 6 Band / Heft: 43 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1385 - 1392 Identifikator: ISSN: 0021-8898