Soft X-ray microscopy to characterize polyelectrolyte assemblies

Köhler, K.; Dejugnat, C.; Dubois, M.; Zemb, T.; Sukhorukov, G. B.; Guttmann, P.; Möhwald, H.

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Soft X-ray microscopy to characterize polyelectrolyte assemblies

Köhler, K., Dejugnat, C., Dubois, M., Zemb, T., Sukhorukov, G. B., Guttmann, P., et al. (2007). Soft X-ray microscopy to characterize polyelectrolyte assemblies. Journal of Physical Chemistry B, 111(29), 8388-8393.

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-56DC-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-56DD-A

Genre: Zeitschriftenartikel

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Urheber:
Köhler, K.¹, Autor
Dejugnat, C., Autor
Dubois, M., Autor
Zemb, T., Autor
Sukhorukov, G. B.¹, Autor
Guttmann, P., Autor
Möhwald, H.², Autor

Affiliations:
1Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863287
2Helmuth Möhwald, Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863312