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  Ellipsometric light scattering for the characterization of thin layers on dispersed colloidal particles

Erbe, A., Tauer, K., & Sigel, R. (2006). Ellipsometric light scattering for the characterization of thin layers on dispersed colloidal particles. Physical Review E, 73(3): 031406. doi:10.1103/PhysRevE.73.031406.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-5B2C-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-0A21-8
Genre: Zeitschriftenartikel

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:
1928281.pdf (Verlagsversion), 133KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
1928281.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, MTKG; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Erbe, A.1, Autor           
Tauer, K.2, Autor           
Sigel, R.1, Autor           
Affiliations:
1Kolloidchemie, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863288              
2Klaus Tauer, Kolloidchemie, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863320              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 298260
ISI: 000236467600035
DOI: 10.1103/PhysRevE.73.031406
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review E
  Andere : Phys. Rev. E
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Physical Society
Seiten: - Band / Heft: 73 (3) Artikelnummer: 031406 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 1539-3755