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  A method for direct determination of the prevailing counterion distribution at a charged surface

Koelsch, P., & Motschmann, H. (2004). A method for direct determination of the prevailing counterion distribution at a charged surface. Journal of Physical Chemistry B, 108(48), 18659-18664.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-5F62-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-5F63-E
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Koelsch, P.1, 著者           
Motschmann, H.1, 著者           
所属:
1Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863287              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2004-12-02
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 210969
ISI: 000225417200037
 学位: -

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Journal of Physical Chemistry B
  出版物の別名 : J. Phys. Chem. B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 108 (48) 通巻号: - 開始・終了ページ: 18659 - 18664 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1520-6106