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  Ellipsometric and atomic force microscopic investigations on poly(para-phenylenevinylene) and poly(phenylquinoxaline) thin films.

Flueraru, C., Schrader, S., Zauls, V., Motschmann, H., Stiller, B., & Kiebooms, R. (2000). Ellipsometric and atomic force microscopic investigations on poly(para-phenylenevinylene) and poly(phenylquinoxaline) thin films. Synthetic Metals, 111, 603-606. doi:10.1016/S0379-6779(99)00318-5.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-6A96-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-7AC7-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

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:
289893.pdf (Verlagsversion), 144KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
289893.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, MTKG; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
2001
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Flueraru, C.1, Autor           
Schrader, S., Autor
Zauls, V., Autor
Motschmann, H.1, Autor           
Stiller, B., Autor
Kiebooms, R., Autor
Affiliations:
1Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863287              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 289893
Anderer: 28704
DOI: 10.1016/S0379-6779(99)00318-5
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Synthetic Metals
  Andere : Synth. Met.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Lausanne : Elsevier
Seiten: - Band / Heft: 111 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 603 - 606 Identifikator: ISSN: 0379-6779