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  X-ray reflectivity study of behenic acid Langmuir-Blodgett mono- and multilayers on SiO₂ surfaces as-deposited and after thermal treatment: Influence of substrate/film interactions on molecular ordering and film topology

Asmussen, A., & Riegler, H. (1996). X-ray reflectivity study of behenic acid Langmuir-Blodgett mono- and multilayers on SiO₂ surfaces as-deposited and after thermal treatment: Influence of substrate/film interactions on molecular ordering and film topology. The Journal of Chemical Physics, 104(20), 8151-8158. doi: 10.1063/1.471491.

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377825.pdf (Verlagsversion), 357KB
 
Datei-Permalink:
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Name:
377825.pdf
Beschreibung:
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OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, MTKG; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Asmussen, A., Autor
Riegler, H.1, Autor           
Affiliations:
1Hans Riegler, Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863311              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1996
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 377825
ISI: A1996UL12500039
DOI: 10.1063/1.471491
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: The Journal of Chemical Physics
  Andere : J. Chem. Phys.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
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Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, N.Y. : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 104 (20) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 8151 - 8158 Identifikator: ISSN: 0021-9606
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836226