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  Reliable optical characterization of e-beam evaporated TiO2 films deposited at different substrate temperatures

Amotchkina, T. V., Trubetskov, M. K., Tikhonravov, A., Angelov, I. B., & Pervak, V. (2013). Reliable optical characterization of e-beam evaporated TiO2 films deposited at different substrate temperatures. Applied Optics, 53(4), A8-A15. doi:10.1364/AO.53.0000A8.

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4730.pdf (Verlagsversion), 981KB
 
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4730.pdf
Beschreibung:
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OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Quantum Optics, MGQO; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
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Copyright Info:
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Lizenz:
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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Amotchkina, Tatiana V.1, Autor           
Trubetskov, Michael K.1, Autor           
Tikhonravov, A.2, Autor
Angelov, Ivan B.1, Autor           
Pervak, V.2, Autor
Affiliations:
1Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445564              
2external, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2013-09-232013-08-092013-09-242013-10-11
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Optics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
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Ort, Verlag, Ausgabe: Washington, DC : Optical Society of America
Seiten: - Band / Heft: 53 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: A8 - A15 Identifikator: ISSN: 0003-6935
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042728167604