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  Zero-loss energy-filtered imaging of frozen-hydrated proteins: model calculations and implications for future developments

Schröder, R. R. (1992). Zero-loss energy-filtered imaging of frozen-hydrated proteins: model calculations and implications for future developments. Journal of Microscopy, 166, 389-400. doi:10.1111/j.1365-2818.1992.tb01537.x.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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JMicroscop_166_1992_389.pdf (全文テキスト(全般)), 6MB
 
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JMicroscop_166_1992_389.pdf
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制限付き (Max Planck Institute for Medical Research, MHMF; )
MIMEタイプ / チェックサム:
application/pdf
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CCライセンス:
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https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1992.tb01537.x (全文テキスト(全般))
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作成者

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 作成者:
Schröder, Rasmus R.1, 著者           
所属:
1Department of Biomolecular Mechanisms, Max Planck Institute for Medical Research, Max Planck Society, ou_1497700              

内容説明

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キーワード: Biological material, contrast enhancement, elastic-inelastic cross-section, electron diffraction, electron scattering, energy-filtered transmission electron microscope (EFTEM), ice, microcrystals, scattering cross-sections, protein structure determination, vetrified proteins, zero-loss energy filtering
 要旨: Energy-filtered transmission electron microscopes operating in zero-loss mode are used increasingly to study biological material in frozen-hydrated conditions. The contrast enhancement and improved structural resolution obtainable by this method have been studied using Monte-Carlo model calculations for the scattering processes occurring in such samples. Three models representing typical situations have been analysed, each normalized to minimal beam damage. It is shown that for proteins in thin layers of ice an optimal signal-to-noise ratio is achieved in the 80-120-keV electron energy range. For proteins which have to be embedded in thicker ice layers, a considerably higher acceleration voltage is required. In particular, electron energies above 200 keV would be desirable for electron diffraction work on microcrystals.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 1992-01-251991-11-201992-01-252011-08-021992-06-01
 出版の状態: 出版
 ページ: 12
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Microscopy
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Oxford : Blackwell Science
ページ: - 巻号: 166 通巻号: - 開始・終了ページ: 389 - 400 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 0022-2720
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954927663105_2